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本申请公开了一种测量纳米器件输运性质的系统和方法，利用FPGA性能高、I/O接口多和可重复配置的优点，控制数据转换单元输出信号并采集信号，对纳米器件进行控制和读出，以测量和表征纳米器件的输运性质，其是一种集成度高、多通道、具有高精度和低噪声...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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