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本实用新型涉及检测设备,公开了一种测试设备。本实用新型中,测试设备,包括:机架;承载台,设置在机架上,用于放置待测电路板;盖板,与承载台相连,朝向或远离承载台的方向运动;供电测试件,设置在盖板朝向承载台的一侧;用于抵接并测试到待测电路板上的...该专利属于上海宏测半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海宏测半导体科技有限公司授权不得商用。
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本实用新型涉及检测设备,公开了一种测试设备。本实用新型中,测试设备,包括:机架;承载台,设置在机架上,用于放置待测电路板;盖板,与承载台相连,朝向或远离承载台的方向运动;供电测试件,设置在盖板朝向承载台的一侧;用于抵接并测试到待测电路板上的...