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本申请提出了一种电子设备的测试方法及装置。本申请使用公共测试项库来储存公共测试项标签和公共测试项的对应关系，在执行精简测试脚本对电子设备进行测试时，测试设备基于公共测试项标签调用公共测试项库中的公共测试项，来完成对于电子设备的共有功能的测试...
该专利属于杭州迪普科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州迪普科技股份有限公司授权不得商用。

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