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本发明提供了一种阴影相位误差补偿方法及装置，涉及结构光测量领域，该方法包括：获取待测物体的相位图；确定所述相位图中的阴影区域，并判断所述阴影区域的类型；若判断出所述阴影区域的类型为有效类型，则确定所述阴影区域中每个像素点的恢复顺序，依据所述...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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