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用于自动地评估底盘测量数据的设备（2）包括：存储器设备（4），其被构成用于存储多个底盘数据集（51，52，53），其中每个底盘数据集（51，52，53）包含至少一个底盘参数（51a，52a，53a）和被分配给每个底盘参数（51a，52a，5...
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