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本申请提供一种液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质，以薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、液晶的介电常数以及薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板施加至液晶层的电压值作为液晶配向力影响因子，基于单一变量法进行仿真以获取符合预定条件的间距值、...
该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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