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一种具有优化的焦深、工作距和轴向光强均匀性的探头制造技术
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下载一种具有优化的焦深、工作距和轴向光强均匀性的探头的技术资料
文档序号:23287169
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本发明提供了一种具有优化的焦深、工作距和轴向光强均匀性的探头,本发明由一段用于导光的单模光纤、用于提高光传输效率以及调控模式能量的一号梯度折射率光纤、用于产生模式干涉场(MIF)以及调控模间相位差的大纤芯光纤、用于放大MIF的二号梯度折射率...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。
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