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本发明公开了一种同轴电缆高频传输特性的测试方法及系统，方法包括以同轴电缆的导体芯线和外导体屏蔽层构成测试回路，根据扫频法，分别测量任意频率下同轴电缆在末端开路时的输入阻抗和在末端短路时的输入阻抗；根据测量结果计算得到同轴电缆的高频传输特性，...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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