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本发明公开了芯片表面缺陷检测技术领域的一种DFB半导体激光器芯片表面缺陷的人工智能检测方法及其装置，包括图像采集模块用于获取DFB激光芯片生产过程对激光芯片采集的图像信号；频谱转换模块用于将图像采集模块采集的图像信号转换成串行数据信号；DF...
该专利属于陕西源杰半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西源杰半导体技术有限公司授权不得商用。

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