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本发明公开了一种大量程成像式双折射分布测量装置及方法，该测量装置包括：光源模块，其接收控制与数据处理模块信号，选择并输出测量所用波长的光束，透射照明被测材料样品；成像镜组，其将经被测材料样品的出射光束投影到光电探测器上；可变偏振态发生器，其...该专利属于南京先进激光技术研究院;苏州晶萃光学科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京先进激光技术研究院;苏州晶萃光学科技有限公司授权不得商用。