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SOI的制造方法技术
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文档序号:23214225
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本发明提供了一种SOI的制造方法包括:氧化第一硅片或第二硅片,以在第一硅片或第二硅片上形成氧化层;将氢离子分为多次注入至第一硅片或第二硅片内;将第二硅片与第一硅片相贴合,并键合第一硅片和第二硅片,以得到键合片;将键合片退火,退火温度为第一温...
该专利属于沈阳硅基科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过沈阳硅基科技有限公司授权不得商用。
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