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本发明涉及一种基于深度学习的全自动电路板缺陷检测系统及方法，包括处理器、标记模块、图像采集设备、穹顶光源、上料系统、下料系统和可调速传送系统，所述处理器内设有深度学习检测模块，所述标记模块、图像采集设备、穹顶光源、上料系统、下料系统和可调速...
该专利属于北京精思博智科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京精思博智科技有限公司授权不得商用。

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