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本实用新型公开了一种电子元器件性能测试台，包括框体机构、输送机构和移料机构，所述输送机构和移料机构均位于框体机构上，所述框体机构包括废料架和输料架，所述输料架的顶部固定安装有测试架和支撑架，所述测试架的底部固定安装有工业相机和LED光源灯，...
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