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本发明公开了一种运用AI和大数据管理的半导体制造缺陷自动管理方法，包括以下步骤：一、当缺陷检测以及review(拍照)完成后，由AI模型－1运行平台自动读取review结果并进行分类，其中拍照设置为20秒100张图片；二、分类完成后，由系统...
该专利属于上海众壹云计算科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海众壹云计算科技有限公司授权不得商用。

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