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本发明可以利用金属探测器及X射线检查装置容易地检测成形品的碎片。在成形品的高分子材料中，分散有能够用金属探测器等检测的磁性体粉末、和能够利用X射线检查装置检测的钨粉末。...
该专利属于株式会社阿瑞斯科技;阿拉暮株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社阿瑞斯科技;阿拉暮株式会社授权不得商用。

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