温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了基于SURF特征匹配的电子元器件定位和检测方法，所述方法包括：采集样本电路板的图像和待测电路板的图像，对原始样本图像和原始待测图像建立坐标系，分别对两个图像进行均值降采样，得到参考样本图像和参考待测图像；分别对参考样本图像和参考...
该专利属于佛山科学技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过佛山科学技术学院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。