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本申请公开了一种缺陷检测方法、系统与装置、计算机可读存储介质，所述缺陷检测方法包括：照射被检测物，采集照射的被检测物的图像；计算采集的图像中像素点的灰度值；根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域。本申请公开的缺陷检测方法、系统与装...
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