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薄膜键盘PCBA测试装置及方法制造方法及图纸
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文档序号:23083846
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本发明公开了一种薄膜键盘PCBA测试装置及方法,包括测试治具,测试治具通过治具探针连接PCBA金手指,并连接上位机;测试治具包括内置测试板,内置测试板包括MCU和若干选通开关单元,治具探针将PCBA键行列分别连接于不同的选通开关单元,选通开...
该专利属于东莞美泰电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过东莞美泰电子有限公司授权不得商用。
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