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本发明公开了一种基于遗传算法的模拟电路故障元件参数辨识方法，首先分析得到模拟电路在不同测点处的传输函数，测量得到模拟电路在预设激励信号下这些测点处的输出电压，将元件参数值向量作为遗传算法中的个体，在对交叉、变异后的个体进行优选时，先按照故障...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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