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本发明涉及热辐射性能测量技术领域内的一种热辐射性能原位检测系统，包括光源模块、光源标定模块、控制模块、样品室以及数据处理模块；光源模块，提供待测样品进行辐照实验与热辐射性能检测所需的光源；光源标定模块，用于待测样品与参考标准在同等条件下的热...
该专利属于上海卫星装备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海卫星装备研究所授权不得商用。

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