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本发明提供了一种基于CsPbBr3量子点‑分子印迹介孔材料的敌敌畏的检测方法，其包括以下步骤：制备CsPbBr3量子点‑分子印迹介孔材料；绘制“荧光淬灭强度‑敌敌畏浓度”标准工作曲线，算出工作方程；测定样品中敌敌畏的含量。本发明的方法检测灵...该专利属于华南师范大学;中山良创印迹材料科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学;中山良创印迹材料科技有限公司授权不得商用。