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本公开涉及测量和去除由内部散射引起的飞行时间深度图像的破坏。深度成像仪可以实现飞行时间操作来测量对象的深度或距离。深度成像仪可以将光发射到场景上，并使用传感器阵列感知场景中从对象反射回来的光。击中传感器阵列的反射光的定时给出关于场景中对象的...
该专利属于美国亚德诺半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过美国亚德诺半导体公司授权不得商用。

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