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本申请提出一种缺陷检测方法、装置及存储介质，其中方法包括：获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；获取缺陷图像库；针对每个检测图像，将检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息；根据每个...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司授权不得商用。