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本发明公开了一种单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法，测量系统中，多轴样品台包括沿X轴平移的X自由度、沿Y轴平移的Y自由度、沿Z轴平移的Z自由度、绕Z轴旋转的旋转自由度以及绕X轴和/或Y轴倾转的倾转自由度，样品台控制模块基于指令控...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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