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本发明公开了一种可同时测量石英晶振片上染料和共吸附剂分子质量的方法，它是基于石英微天平与紫外可见光光分度计可测试石英晶振片上染料分子数的方法，可以准确测得在光敏化剂及共吸附剂在晶振片上的吸附质量。本发明与现有检测染料质量技术相比，存在以下优...
该专利属于南昌航空大学所有，仅供学习研究参考，未经过南昌航空大学授权不得商用。

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