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精密激光波长测量系统技术方案
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文档序号:22815367
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本发明适用于激光波长精密测量技术领域,涉及一种精密激光波长测量系统,所述系统包括光梳梳齿光处理装置、被测光处理装置、重合转换处理装置以及波长测量装置;通过将一束弱功率的被测激光耦合后进入保偏光纤,通过将所述光梳梳齿光与被测激光合束后,在保偏...
该专利属于中国计量科学研究院所有,仅供学习研究参考,未经过中国计量科学研究院授权不得商用。
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