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标高确定方法、装置和电子设备制造方法及图纸
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文档序号:22644762
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本公开公开一种标高确定方法、装置和电子设备。其中,该标高确定方法包括:接收目标构件类型的标高变化事件;确定所述目标构件类型与至少一个或多个依赖构件类型的单向依赖关系表;反向遍历所述单向依赖关系表中的所有构件类型,依次计算所述所有构件类型下受...
该专利属于广联达科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广联达科技股份有限公司授权不得商用。
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