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本发明提供了一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，包括：施加不同的电压进行静电纺丝，测量静电纺丝过程中聚合物流体形成的泰勒锥的高度并通过扫描电子显微镜测定所得纳米纤维的直径，建立泰勒锥的高度和纳米纤维的直径之间的线性关系...
该专利属于上海理工大学附属初级中学;上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学附属初级中学;上海理工大学授权不得商用。

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