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本发明提供了一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法、系统及设备。一种基于深度学习的薄膜表面缺陷检测方法包括S1：对检材正面进行图像采集；S2：对所述检材反面进行所述图像采集；S3：进行图像预处理；S4：进行轮廓外观缺陷检测；S5：判断轮廓检...
该专利属于上海深视信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海深视信息科技有限公司授权不得商用。

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