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本发明公开了一种转台重心与转轴中心偏离量测量结构及测量方法。测量结构包括测量主支撑，撑角一，撑角二，撑角三，电子秤一，电子秤二，电子秤三，水平尺一，水平尺二；撑角一、撑角二及撑角三分别各通过螺纹与测量主支撑连接，撑角一放置在电子秤一测量面中...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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