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本发明涉及一种产品缺陷识别方法，包括通过光学设备获取产品图像；去除图像背景，留下图像的关键特征，并缩小图像尺寸；通过深度学习算法筛选出图像中的瑕疵。本方法相较于现有的缺陷识别算法，无需繁琐地进行多重参数调整，因此能够快速适应不同产品的瑕疵识...
该专利属于昆山亘恒智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山亘恒智能科技有限公司授权不得商用。

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