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本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质，包括：对训练样本上的缺陷进行标记，得到包含有标记位置信息和类别信息的标签；根据所述缺陷的标记位置信息确定所述缺陷在所述训练样本上的目标位置信息，并根据所述缺陷的目标位置信息截取缺陷图...
该专利属于京东方科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。

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