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本发明提出了一种用于H桥电路的老炼装置及其老炼方法，属于电器元件测试技术领域，其具体包括N级依次排布的老炼单元以及连接在第一级老炼单元输入端的电源电路和连接在第N级老炼单元输出端的负载电阻，所述每一级老炼单元均包括待测件，且每一级老炼单元的...
该专利属于西安伟京电子制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安伟京电子制造有限公司授权不得商用。

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