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本实用新型公开了半导体测试机校准装置，包括底座，所述底座的顶部开设有通槽，所述通槽内部的两侧均滑动连接有活动杆，所述通槽中部的上方设置有过线套，所述活动杆和过线套之间设置有连接结构，所述底座的顶部且位于通槽的前后两侧均设置有固定结构。本实用...
该专利属于捷硕（长泰）电力电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过捷硕（长泰）电力电子有限公司授权不得商用。

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