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一种电子器件的测试装置的探针卡(20)包括测试头(21)、支撑板(23)和柔性膜(25)，所述测试头(21)容纳沿第一端部(24A)和第二端部(24B)之间的纵向轴线(H‑H)延伸的多个接触元件(22)，所述第一端部(24A)适于抵靠在所述...
该专利属于泰克诺探头公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克诺探头公司授权不得商用。

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