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本发明涉及电气测量技术领域，具体涉及一种绝缘介质表面电荷特性的测量系统、方法及分析方法。包括电源具有设置于绝缘介质表面的电极；电源通过电极向绝缘介质提供电源；至少一个探头，设置于绝缘介质表面且与电极相隔预设距离；电流曲线测量装置，与探头连接...
该专利属于中国科学院电工研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电工研究所授权不得商用。

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