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本发明提供了一种绝缘子老化程度的评估方法，包括以下步骤：从所述绝缘子上选取多个待测采样点；获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数；以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较，从而确定所述...
该专利属于清华大学深圳研究生院所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学深圳研究生院授权不得商用。

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