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本发明公开的基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置，包括光源，光源后按照光线入射顺序依次设置有光线、准直系统、起偏器、波片、样品台、高阶相位延迟器、Wollaston棱镜和接收单元；准直系统包括按照入射光线依次设置的第一透镜和第二透镜；接...
该专利属于西安理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安理工大学授权不得商用。

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