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本发明公开了一种背光源压模缺陷检测方法及系统，涉及光学缺陷检测技术领域；该检测方法包括以下步骤：S1：设置施压装置的施压方式以及相机的取像帧率，使所述取像帧率与施压装置的施压频率适配；S2：控制所述施压装置按照所述施压方式和施压频率压覆待测...该专利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。