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本实用新型涉及一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头，其中，所述探头设有探头接口端、接口卡槽、密封护套、磁性组件、芯片组件和探头底座，所述磁性组件和芯片组件设置在所述密封护套内，所述探头底座通过...
该专利属于沈洋所有，仅供学习研究参考，未经过沈洋授权不得商用。

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