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本发明公开了一种多样品发光强度的测量系统及方法，本发明技术方案基于光纤束对多个发光样品的发光强度进行快速测量，能够同时高效率地采集大量微弱发光信号，便于实现快速分析处理，同时也兼具成本低、制作简单和使用范围广的优点。...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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