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一种实验室用具有容积测量的精密型电子天平制造技术
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文档序号:22008522
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本实用新型公开了一种实验室用具有容积测量的精密型电子天平,包括天平基座,所述天平基座的下表面四个拐角处均嵌入安装有调平脚,且天平基座的上表面设置有调平检测机构,所述调平检测机构的两端均设置有固定块,所述天平基座的上表面靠近调平检测机构的一侧...
该专利属于常州万泰天平仪器有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过常州万泰天平仪器有限公司授权不得商用。
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