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本公开涉及基于特征点及其结构关系的电路板残片图像识别方法，其中在样本库中保存有样本图像及其特征点和特征描述，该方法包括步骤：1、提取残片图像的特征点；2、计算特征点的SIFT描述；3、分别计算每个特征点的SIFT描述与每个样本图像的每个特征...
该专利属于北京邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京邮电大学授权不得商用。

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