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本发明公开了一种细长构件准静态全场变形测量装置和方法，该装置包括摄像机构(1)和驱动机构(2)，其中，所述摄像机构(1)和驱动机构(2)均与细长构件(3)平行设置，所述摄像机构(1)在驱动机构(2)的作用下进行平移，以在多个位置采集细长构件...
该专利属于北京林业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京林业大学授权不得商用。

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