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本发明公开了一种SD‑OCT图像的青瓷釉层厚度测量方法。通过测量样本青瓷釉层的厚度，建立不同类型青瓷釉层折射率的数据库；采集青瓷釉层的SD‑OCT图像；通过对青瓷釉层的SD‑OCT图像滤波和二值化，定位釉层的上边界；再边缘检测设计结构元素，...
该专利属于浙江科技学院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江科技学院授权不得商用。

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