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本实用新型适用于光学领域，提供了一种折射率显微测量系统，包括探测光产生装置、扫描探测装置和信号采集与处理装置，其中，探测光产生装置用于提供具有紧聚焦特性的探测光，并将探测光入射至扫描探测装置，扫描探测装置将该探测光聚焦在在样品片上，用于对样...
该专利属于深圳大学所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大学授权不得商用。

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