下载一种超短回波时间磁共振指纹弛豫时间测量方法的技术资料

文档序号:21889440

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本发明专利公开了一种超短回波时间磁共振指纹弛豫时间测量方法,该方法采用半脉冲激发和半投影读出缩短TE实现超短T2时间信号的采集,图像采集和重建基于磁共振指纹成像技术。引入正弦波动的回波时间变化模式,提高了磁共振指纹信号对短T2和超短T2组织...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。

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