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本发明公开一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法，包括如下步骤：光学尺度、二维扫描电镜观察，并选取典型有机质三维切割重建，对目标有机质孔隙结构进行详细观察和图像采集；利用图像分析软件对不同有机质面孔率、孔径分布、孔隙度等特征参数进行定量表...
该专利属于重庆地质矿产研究院所有，仅供学习研究参考，未经过重庆地质矿产研究院授权不得商用。

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