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本发明涉及测量系统。各种示例涉及用于管理传感器的系统和方法。测量系统可以从主机装置接收描述测量系统的第一配置的第一寄存器映射。第一配置可以与第一传感器相关联。测量系统可以将第一寄存器映射与指示不一致的寄存器映射排列的错误规则集进行比较。在将...
该专利属于亚德诺半导体无限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过亚德诺半导体无限责任公司授权不得商用。

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