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本发明涉及一种包含基底和涂层的涂层切削工具，其中涂层包含4‑14μm厚Ti1‑xAlxN的内层、0.05‑1μm TiCN的中间层和至少一个1‑9μmα‑Al2O3的外层，其中，使用CuKα辐射和θ‑2θ扫描进行测量，所述α‑Al2O3层表...
该专利属于瓦尔特公开股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瓦尔特公开股份有限公司授权不得商用。

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